現在的IC
在出廠前都會有基本的DFT test跟 Memory bist 測試
DFT跑的叫做scan test 意思是IC裡頭所有的D flip-flop都會串起來跑
一顆IC可能有100條路徑 每條路徑要能PASS才能出貨
這是為了確保每個測試到的D flip-flop都正常
假設一個CPU有100萬顆D flip-flop 若test coverage 是99%
那就至少有99萬顆D flip-flop會是正常的

聽各位描述的
看來有點像是測試的coverage不夠
導致不良品流出
這個AMD應該要打屁股
因為這樣消費者信心崩潰
長遠來說 是短多長空
不可不慎