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Advance Member
  
加入日期: Mar 2003
文章: 349
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[急]請問有在半導體廠QC部門的嗎?!
有沒有人知道..在半導體廠的製程中~~
要檢驗wafer,檢驗它的缺點~~~~ 例如:灰塵、圖形異常……等等~~~ 在SOP(標準作業程序)中,這些類別都應該會有佔了多少權重...應該會列在SOP裡面才對~~~~ 這應該不是很機密的東西才對?!?!因為我有朋友目前的論文是需要有這方面的資料~~~ 不知道有哪位有這樣的資料~~ 就是檢驗wafer的一些缺點、以及每個項目所佔的權重比~ |
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2004-12-15, 06:31 PM
#1
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Regular Member
加入日期: Jun 2003 您的住址: 塞伯坦星球
文章: 52
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這種東西不是機密~但也不是那樣簡單就能拿到手的東西~所以可以試著自己模擬~相信對你朋友有幫助
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2004-12-15, 08:04 PM
#2
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